Difractometre de raze X
Difractometrul de raze X eMMA
Difractometrul de raze X eMMA
Difractia de raze X (XRD) este o tehnică non-distructiva pentru analiza calitativa si cantitativă a materialelor cristaline, sub formă de pulbere sau solid.
Practic XRD se obtine ca „reflectie” a unui fascicul de raze X de la o familie de particule atomice paralele si echidistante, ca urmare a legii Bragg: atunci când un fascicul monocromatic de raze X, cu o lungime de unda l, cu un unghi q, difractia are loc în cazul în care in calea razelor reflectate (cu distanta d)se afla un difractor care este un multiplu de lungimea de undă.
Analiza calitativă (analiza de fază) se poate face datorită compararii difractogramei obtinută din specimenul cu un număr foarte mare de modele incluse în bazele de date oficiale.
Multe alte investigatii pot fi efectuate cu ajutorul difractiei cu raze X.
Analiza structurii: XRD este utilizat pentru a investiga structura cristalografică a unui material. Pozitia si intensitatile relative ale liniilor de difractie poate fi corelată cu pozitia atomilor.
Aparatura din categoria: Aparatura de ultima generatie, Difractometre XRD, Produse
